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(株)テクトロニクス&フルークフルーク社

FLUKE 트위스트 가드 테스트 리드 세트 TL175 1 S

FLUKE 트위스트 가드 테스트 리드 세트 TL175 1 S

JAN:  
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카탈로그 품번:TL175 특징: ●2층의 실리콘 절연재로 덮여 있어 리드가 손상되거나, 긁히거나, 손상해, 교환이 필요한 경우, 안쪽의 반대색의 절연체가 보이게 됩니다. ●리드의 파손을 나타내, 30000회를 넘는 굽힘 조작에 견디는 매우 튼튼한 장력 완화를 갖추고 있습니다. ●특허 취득이 끝난 TwistGuard[[TM상]] 신장 가능 칩·슈라우드는, 칩 노출을 경감해, 가장 엄격한 전기 안전 기준에 적합하고, 또한 대부분의 계측에 대응 가능합니다. 사양:●길이(m):1.2●타입:표준 ●사용환경온도:-20℃~55℃ ●안전규격:CAT[[R2]]1000V、CAT[[R3]]1000V、CAT[[R4]]600V、오염도2
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